IM3523LCR测试仪产品概述应用于生产线和自动化测试领域的理想选择● 基本精度±0.05％，测量范围广（DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA）● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。● 内置比较器和BIN功能● 2ms的快速测试时间
更新时间：2018-07-26
IM3523LCR测试仪产品概述
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间
IM3523LCR测试仪产品特点
在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。
为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更，最多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量LPOT?LCUR间和HPOT?HCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。
IM3523LCR测试仪选型指南
测量模式 | LCR,连续测试 |
测量参数 | Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q |
测量量程 | 100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义) |
可显示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° |
测量频率 | 40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz) |
测量信号电平 | 正常模式 |
输出阻抗 | 正常模式：100Ω |
显示 | 单色LCD |
测量时间 | 2ms(1kHz,FAST,代表值) |
功能 | 比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能 |
接口 | EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) |
电源 | 100～240V AC，50/60Hz，最大50VA |
尺寸及重量 | 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg |
附件 | 电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1 |
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